製品

ZEISS Xradia Context microCT 業界最先端のmicroCTプラットフォーム

ZEISS Xradia Context®マイクロ断層撮影（microCT）は、あらゆる種類の試料の解析に対応する使い勝手の良いシステムです。ピクセル密度が高いアレイ検出器により、比較的大きなイメージングボリュームでも細部まで高分解能を確保できます。当該システムは、広視野、迅速な試料マウントおよび配置、効率化された取得ワークフロー、短い露光時間およびデータ再構成時間を特徴としています。

実用可能な電池や電子部品を含む大型製品、生物標本などの大きい試料などを非破壊にて3Dデータの取得
非破壊故障解析によって、試料を切断または加工することなく内部の欠陥を特定
地質学的試料の性能を左右する不均一性（間隙率、亀裂、介在物、欠陥または多相）の特性評価および定量化
Ex situ処理またはin situ試料操作により、革新的な4D研究を実施
ZEISS相関顕微鏡環境と紐付けし、非破壊的3Dイメージングによってその後に行う解析の関心領域を特定

フルコンテキスト3Dイメージング

Xradia Contextは、効率的なワークフロー、高スループットスキャン機能、高画質、安定性および使いやすい操作性を提供
相対的大きいイメージングボリュームでも、600万画素のピクセル密度が高い検出器によりフル3Dコンテキストで細部を解像
プロセス分析、構造解析および故障解析のため包埋された構造物を3Dで非破壊的に視覚化
小さな試料の場合は幾何学的拡大を最大限使用して、高いコントラストと明瞭さでミクロンスケールの構造を識別および特性評価
合理化された取得ワークフロー、短い露光時間およびデータ再構成のメリットを活用可能

_{インタクトな状態の触媒コンバーター内部のバーチャル断面}

実績のあるXradiaプラットフォームに基づく顕微鏡

Xradia Versaシリーズと同じプラットフォームで開発されたXradia Context microCTで、長年の開発実績と実証された安定性のメリットを活用
高解像度・高品質なデータ収集と再構成の進化に対応したシステム
使いやすいScout-and-Scan制御システムで効率的なワークフロー環境が実現
オプションのAutoloaderを使って試料を迅速にマウントおよび配置するか、システムを拡張して連続で最大14個の試料を自動的に処理
In situキットを使用すれば、4Dおよびin situ研究の様々な条件下で物質の微細構造の変化を測定可能
Advanced Reconstruction Toolkit（高性能再構成ツールキット）を追加し、スループットを向上させて優れた画質を確保

_{インタクトな状態のスマートウォッチのコンテキストマイクロCTスキャン。}

Xradia Versa顕微鏡（XRM）に変換可能

イメージングのニーズの高まりに合わせて、機器も進化していかなければなりません。そして、現場におけるシステムの機能拡張に対する取り組みから生まれたXradia Contextが、ZEISSのX線イメージングポートフォリオに加わりました。
Xradia Context microCTは、CrystalCT、5XXプラットフォーム、ZEISS Xradia 620 Versa 3D X線顕微鏡（XRM）にいつでも変換可能な唯一のマイクロCTです。ニーズに合わせて進化する3Dトモグラフィーイメージングを提供します。

_{クマ顎の全視野イメージング}

アプリケーション分野

エレクトロニクス

スマートスピーカーの3DコンテキストマイクロCTスキャン画像。幅広い試料サイズにおいて、深部にある構造や欠陥を非破壊かつ業界トップクラスの分解能で3次元的に可視化することができます。
製造

電球の3Dレンダリング。Contextは、内部構造の確認や製造された部品の欠陥を特定するための試料全体をスキャンする際に有用です。
生命科学

パラフィンに埋包されたマウス胚の3Dレンダリングの断面図。内部構造を高コントラストで表示。試料ご提供：Massachusetts General Hospital
地球科学

不均一な岩石試料の仮想断面から複数の相と空孔率が明らかに。
材料科学

充放電後の梱包されていないリチウムイオン電池のバーチャル断面。集電体と陰極層の損傷を確認できる。試料ご提供：Prof. D. U. Sauer and Prof. E. Figgemeier, ISEA, RWTH Aachen University
金属

タービン翼の表面形状を評価し、内部に欠陥や亀裂がないか検証するために高速スキャンした結果の3Dレンダリング。

確立された実績のあるXradia Versaプラットフォームに基づいたXradia Context microCT。

実績のあるテクノロジーに基づく画質

データのダウンストリームセグメンテーションと定量化をサポートする機能、さらに異なる位相の区別が容易にできる優れたコントラストと画像の鮮明さを、その目でお確かめください。

データ品質は、X線源の特性、ビームエネルギーの調整、検出器の形状と感度、環境制御、運動と振動の安定性、正確なシステム校正、および再構成の精度など、複数の要因に左右されます。これらの課題に対処するために、Xradia Context microCTは、実績のあるXradia Versa X線顕微鏡シリーズと同じプラットフォーム上に構築されています。そのため、Xradia Versaの高性能3D X線イメージングを実現する安定化メカニズムと優れたデータ品質を継承しています。

各種試料に適合する、ビームハードニング制御用の高純度X線フィルター
強化された自動ドリフト補正モード
高性能ビーム硬化低減アルゴリズム
最適な画質を保証するための、独自開発の先進的な追加アルゴリズム
試料保護の簡易化により、実験の設定を最適化

ZEISS SmartShieldは、試料と顕微鏡を保護するためのソリューションです。この自動衝突回避システムは、Scout-and-Scan制御システム内で動作します。これにより、Xradia Versaをこれまでになく快適に操作することができます。ボタンをクリックするだけで、SmartShieldが試料寸法に基づいてデジタルの保護膜を作成します。

SmartShieldのメリット：

簡素化された試料設定により、作業効率が向上
初心者から上級者まで、経験に関係なく優れたユーザー体験を提供
貴重な試料および投資を保護
確かなスキャン画質
広視野モード

広視野モード（WFM）は、横方向に延長された視野全体をイメージングするのに使用します。横方向に広い視野によって、大型試料についてはこれまでの3倍以上の3D体積に対応でき、標準的な視野の場合はボクセル密度がより高くなります。どのXradia Versaシステムも、0.4倍の対物レンズでWFMに対応できます。WFMを垂直スティッチングと組み合わせることで、より大きな試料を優れた分解能でイメージングすることができます。

アクセサリ

追加アクセサリで顕微鏡をアップグレードして性能を強化

ZEISS Xradia 620 VersaとDeepRecon Proを使用して取得した、カメラレンズの3D X線データセット。

Advanced Reconstruction Toolbox（高度再構成ツールボックス）

高スループットと高い画質を両立

人工知能（AI）駆動再構成テクノロジーを用いたZEISS Xradiaシステム。X線物理学と多様な応用例への深い知見を活かし、新しい革新的な方法で、難度の高いイメージングの課題を解決。

詳しく見る

Autoloader

機器を最大限活用

オプションのZEISS Autoloaderによって、ユーザーの作業量を最小化しつつ装置を最大限に活用できます。複数の作業を進行できるため、ユーザーが試料を操作する回数が減り、生産性が高まります。試料ステーションは14台までロード可能であり、最大70個の試料を支持および配列し、終日またはシフト時間外でも稼働させることができます。

In Situインターフェースキット

科学の発展のために限界に挑戦

ZEISS Xradiaプラットフォームは、高圧フローセルから引張、圧縮、加熱ステージ、ユーザーのカスタム設計まで、様々なin situ測定に対応します。X線検査の非破壊的な性質を活用して、研究を空間的な3次元から、時間次元を用いた4D実験に拡張することができます。

ビジュアライゼーションと解析

ZEISSが推奨するDragonfly Pro

ORS Dragonfly Proは、X線、FIB-SEM、SEMおよびヘリウムイオン顕微鏡などの様々な技術を用いて取得した3Dデータに対し、高度な解析およびビジュアライゼーションを行えるソフトウェアソリューションです。ORS Dragonfly Proは、大型3Dグレースケールデータの可視化・解析に対応する、直感的で完全かつカスタム可能なツールキットで、ZEISSが独占的に提供しています。Dragonfly Proでは、3Dデータのナビゲーション、アノテーション、ビデオ制作を含むメディアファイルを作成できます。画像処理、セグメンテーション、オブジェクト解析を行い、結果を定量化します。