研究において、お使いの機種では対応不可能な新しい試料やタスクに出くわすことがあります。最新の機種を購入する予算がなくても、顕微鏡のアップグレードは可能です。顕微鏡の機能性とパフォーマンスを向上させ、耐用年数を延長することで、目まぐるしく変化する業界で求められる結果を得ることができます。
下記の製品カテゴリーから、お使いの顕微鏡が属するカテゴリーを選択し、アップグレードがパフォーマンスや耐用年数にもたらすメリットをご覧ください。また、顕微鏡のカテゴリーが不明な場合やご質問がある場合は、
正立顕微鏡は、染色した組織、脳切片、ゼブラフィッシュ胚などの試料の観察に最適です。一方、倒立顕微鏡はルーチン検査や培養組織などを短時間で観察するのに適しています。
アップグレード対応シリーズ
ズーム式実体顕微鏡や実体顕微鏡は、横方向に正確な3D画像を必要とするアプリケーションに最適です。この種類の顕微鏡では、より長い作動距離と広い視野を確保できます。
レーザー走査型顕微鏡または共焦点顕微鏡は、点ごと、線ごと、または複数の点を一度にスキャンすることで、試料の画像を取得します。高い感度が求められるライフサイエンスのアプリケーションに加え、材料の表面トポグラフィーにも最適です。
ZEISS 集束イオンビームSEMでは、ナノ領域の3D観察と加工が可能です。電界放出型SEM(FE-SEM)によるイメージング・分析と、集束イオンビーム(FIB)による加工を行うことができます。
Geminiテクノロジーにより、イメージングが困難な試料からでも、高解像度・高精度の画像を高速で取得できます。Geminiの光学系は、電界放出型SEM(FE-SEM)に20年以上使われている実績のあるテクノロジーです。
ZEISS従来型SEMでは、高解像度で優れたコントラストの材料表面情報が得られます。 試料を集束電子ビームでスキャンし、表面トポグラフィーや組成を観察できます。
Xradia Versaは、これまでの限界を超える非破壊サブミクロンX線イメージングを実現します。Xradia Versaシリーズの最先端モデルは業界最高レベルの分解能とコントラストを備えており、新たなレベルの非破壊イメージングが可能です。
ZEISS Xradia Ultraでは、ラボベースのX線イメージングシステムで最高レベルの空間分解能50 nmを達成できます。シンクロトロン技術を応用した独自のX線光学系により、ポリマー、セラミックス、岩石、金属などの幅広い材料の3Dイメージングが可能です。
ZEISS Xradia Contextでは、広い実視野の非破壊3DマイクロCTイメージングが実現します。安定感のあるステージとソフトウェアで自在に調整できる試料/検出器のポジショニングによって、サイズが大きく重厚な試料全体の3Dイメージングや、小さな試料のサブミクロンレベルの分解能での詳細なイメージングが可能となります。
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