C-SEMのアップグレード

広範カスケード型電流検出器（C2DX）は、EVOシリーズ独自の検出器で、最高3,000 Paの圧力で優れたイメージング性能を発揮するよう設計されています。

メリット

• 試料作製の手間を最小限に削減
• S/N比を向上させたイメージング
• 圧力範囲の拡大
  

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BSD検出器は、非常に低い角度で反射する電子を検出するのに使用されます。新しい増幅器によって検出器の効率が向上するため、様々なコントラスト情報、はるかに高いゲイン、低ノイズレベルが実現します。

メリット：

• 信号収集機能の強化
• 静かに作業可能
• 多様なイメージング

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第4世代の低真空SE検出器（VPSE G4）は、収集信号の改善により、さらに速い応答時間を実現します。高速スキャンのおかげで生産性がアップします。VPSE G4は、最大400 Paまで（20 keV時）コントラストを20%向上させます。

メリット：

• トポグラフィックイメージング
• スキャン速度の向上
• 低加速電圧イメージングを強化

SEMイメージングだけでは部品や試料を完全に理解するための情報が得られない場合、エネルギー分散型X線分光法（EDS）に切り替え、空間分解能を用いて元素化学情報を入手することができます。

メリット：

• ルーチンの微量分析アプリケーションに最適なソリューション
  
• ワークフローに沿ったグラフィカルユーザーインターフェース
  
• ZEISSトータルサービスとシステムサポート

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ZEISS Atlas 5では、試料重視の相関環境で広範なマルチスケール、マルチモーダル画像を作成し、実験を容易化することができます。

メリット：

• 複数のソースで取得した多次元画像の相関付け
• 高速かつ容易な画像取得

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SmartSEMは、困難な課題を解決するために設計された、高度な顕微鏡設定へのアクセスを提供する電子顕微鏡用オペレーティングシステムです。

メリット：

• 強化されたイメージング条件
• 追加のソフトウェアモジュール
• 画像からより多くの情報を取得
• 直感的なナビゲーション

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高度粒子分析／分類ソリューションであるSmart Particle Investigator(SmartPI)があると、走査電子顕微鏡（SEM）で産業的清浄度または金属／鋼に関する実験のためのソリューションをすぐに使用できるようになります。

メリット：

• シンプルかつ迅速な分析
• インテリジェントな粒子検出機能
• リアルタイムで進捗状況を追跡可能
  

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Shuttle & Findを用いて、ZEISSの電子顕微鏡と光学顕微鏡を接続しましょう。ハードウェアとソフトウェアソリューションの組み合わせによって、標本を1つの顕微鏡システムから別のシステムに数分で移動できます。

メリット：

• より多くの情報を取得可能
• 迅速なキャリブレーション
• 柔軟に選べるコンポーネント

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ZEISSは、試料やチャンバーの除染を目的とした迅速かつコスト効率の高いソリューションを提供します。プラズマクリーナーは、プラズマ中で反応性の高い気相ラジカルを発生させるために使用します。ラジカルは機器のチャンバー内に移動し、不要な炭化水素と化学反応します。

メリット

• 画質向上
• 試料の素早い除染
• 安全な除染

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デュアルジョイスティックコントローラーとコントロールパネルを使用することで、より快適な操作が可能になります。デュアルジョイスティックコントローラーは、ステージ制御や試料のナビゲーションに使用でき、コントロールパネルによって、SEMの最も頻繁に使用する機能に簡単にアクセスすることができます。

メリット：

• 多くのコンペンセーション機能
• 多様な構成オプション
• 便利な操作性

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