用于材料科学的显微镜应用
纳米科学和纳米材料
解决纳米科学和纳米技术中最紧迫的挑战
对更实惠、更快捷器件需求的不断增长推动了纳米技术的创新。为了满足这一需求,对半导体、低维材料、薄膜、光子学以及微流控和纳流控的研究日益复杂。换言之,推动纳米科学进步的动力使得人们在现有技术基础上不断取得突破。
纳米材料研究的成效取决于可用的显微成像工具。适当的工具可以帮助您轻松收集有关样品的关键信息,而样品或研究越复杂,分析要求就会越严格。如果显微镜满足不了您的研究需求,您的项目便会停滞不前。
客户评价
Claus Burkhardt博士
罗特林根自然与医学科学研究所应用科学和电子显微镜负责人
“假设能检测到小至1玻尔磁子的磁矩,你会做些什么?事实上,你可以看到单电子自旋翻转。这正是我们试图用nanoSQUID超导量子干涉器做的事情。这些干涉器由一个与约瑟夫森结相交的环组成,具有约1 nm厚的超薄绝缘隧道势垒。我们可以使用蔡司Orion Nanofab制造SQUID。由于约瑟夫森结很小,因此需要在超薄样品上使用TEM。接着,我们可以进一步研究晶体损坏。现场样品制备对于感兴趣区域的重新定位至关重要,而它只能使用FIB-SEM完成。为了实现原子分辨率,获得极薄的高质量样品十分关键。”
制备TEM薄片并研究NanoSQUIDS
碳膜上的ZnO纳米颗粒
STEM倾斜系列明场STEM图像,使用STEM断层扫描仪专用样品夹与aSTEM探测器可同时收集四种信号。蔡司GeminiSEM。
三维断层扫描和分析
以加拿大硬币为例的多层金属系统,典型的FIB-SEM工作流程,结合了切割、成像、EBSD(顶部)和EDS(底部)。详图,上排从左至右:EBSD、铜、菊池带衬度;EBSD、铁、欧拉色;EBSD、镍、IPF X。下排从左至右:EDS面分布图:铜、铁、镍。蔡司Crossbeam、带三维分析模块的蔡司Atlas 5、EDS、EBSD。