对复杂新型合金进行高级分析

任何系统都难以避免失效、腐蚀或其他形式的退化。无论退化是快速发生还是渐进形成，在预期内产生还是意外出现，在生产、制造或使用过程中，始终存在失效的可能性。这可能只会带来轻微的不便，也可能会造成灾难性的生命损失。通过实施严格的质量控制措施、采用经过验证的生产方法、进行使用过程中的定期检查，以及对所有失效事件进行彻底的原因分析并在未来采取相应的纠正措施，可以减少失效发生的几率。

即便是制造过程中产生的微小偏差或缺陷（如孔隙、夹杂物、裂纹、残余应力或微观结构中的细微不均匀性），也可能导致严重失效。失效也可能由非正常使用条件下的操作、突发意外事件或计划中的报废所引起。

显微镜是失效分析和腐蚀评估的关键工具，下列所有技术及其他技术都可用于确定腐蚀的程度、机制和特征，以及失效的根本原因。

• 光学显微镜
• 电子显微镜
• 共聚焦光学显微镜
• EDS
• EBSD
• 拉曼光谱技术
• X射线计算机断层扫描
• X射线显微镜
• FIB-SEM
  

蔡司软件可轻松关联由不同显微镜采集的多个数据集，显示所有相关特征，并帮助研究人员全面了解突发失效或随时间逐渐退化的过程。