自动分析

地质事件的地球化学建模以记录蚀变的岩石的矿物学和本体化学知识为基础。蔡司Mineralogic 2D使用基于标样校准的EDS分析，只需一次分析便能提供精准、可操作的本体化学信息、矿物学信息和微米级的岩相化学分区。这缩短了得出结果的时间并减少了所需的佐证数据量。只需点击一个按钮即可返回到感兴趣的晶粒，再使用WDS获取痕量元素信息，或导出坐标图以供TOF-SIMS和LA-ICP-MS使用。通过基于标样校准的高灵敏度定量EDS，可获得高精度。单独使用BSD灰度进行比对是较为快速的分析方法。添加元素比例规则，可分辨固溶体的最终成分。高分辨率成像与全套图像处理功能相结合，为您提供强大的优势来解决先前无法解决的应用难题。

地质研究往往涉及复杂且多样的系统，因此简单的分类标准可能不足以全面描述一个系统。蔡司矿物分析结合矿物的形态学参数和化学组分来进一步描述样品的矿物学特征并区分关键证据。您可进行岩性分类，通过结合化学和形态化学分类，自动对颗粒进行分类，确定和量化矿石类型，并呈现矿物纹理。将化学成分与晶粒尺寸、形状参数、灰度和孔隙率相结合，可实现在线形态化学定量，并在分析结束后立即将所有结果制成列表。您还可以识别黄铁矿和针铁矿的结晶度和孔隙发育情况，这有利于更好地追溯矿物成因，评估生物矿化实例，进而给出基于事实的操作决策。

数十年来，说到“自动矿物学分析”，就意味着需要使用扫描电子显微镜（SEM）。采用基于SEM的能量色散X射线谱（EDS）化学测量对矿物进行分类一直是显微技术中快速、自动识别矿相的通用方法。

在DeepRecon降噪深度学习算法的助力下，Mineralogic 3D充分利用X射线显微镜的成像功能，根据衰减测量结果自动对样品进行矿物学分类。在断层扫描中进行矿物学分类是一项特有的功能，与三维重构实体的形态测量配合使用，即可计算标准和自定义数据输出，如真实的晶粒尺寸/形状以及伴生矿物测量等。

二维自动矿物学分析基于暴露面或边缘测量解离度，基于线性接触分析伴生矿物，并基于样品包埋固定表面的暴露相提供模态矿物学特征，而三维矿物学分析则基于晶粒的三维空间及其在未改变颗粒表面上的暴露状态来测量解离度。伴生矿物的测量以全矿物表面和其他矿相的接触为基础，模态矿物学特征则可以展示包括暴露在颗粒表面或隐藏在颗粒内部的所有晶粒的特征。

蔡司Mineralogic 3D采用X射线显微技术和深度学习算法进行三维自动矿物学分析，可实现颗粒识别、矿物分类和包括解离度与伴生矿物测量结果在内的数据输出。