产品

蔡司Axiovert 用于材料实验室和智能记录的倒置显微镜

使用蔡司Axiovert，轻松获取体积和重量较大的样品的高质量图像。系统可协助您选择设置，确保您获得始终如一的明亮清晰图像。此外，您可以在反射或透射光中选择所有标准观察方式。使用Axiovert 5，您甚至不需要计算机来查看和记录图像，只要连接显示器并直接保存到USB设备即可轻松完成任务。您还可通过应用自动化功能提高效率。

探索智能显微镜，对焦、拍摄、完成。
通过强大的数字化记录提高效率。
使用符合人体工程学的操作设计，全天候舒适工作。
选择带智能显微镜的手动Axiovert 5，快速获得可靠结果。
选择电动Axiovert 7，以满足对工作流自动化的更高要求。

对焦、拍摄、完成

探索智能显微镜

Axiovert是一款智能显微镜，成像快速、结果出众。

您只需对焦并按下“单拍”按钮，即可保存材料样品的高质量图像。
省时省力，无需重新调焦即可更换样品。
只需将样品放在载物台上，对焦一次，即使改变放大倍率，也能保持对焦状态，拍摄更多样品。

满足您的各种需求

强大的数字化记录系统

Axiovert助您更加简单方便地完成日常任务。通过附加功能（如自动化），轻松扩展您的成像能力和处理效率。

借助C-DIC（圆微分干涉相差）等各种经典和先进的观察方式，您甚至可以稳定地检测体积和重量较大的样品。
如果实验室空间有限，您也可以在单机模式下使用Axiovert 5。通过屏幕显示（OSD）菜单即可控制显微镜，无需额外的计算机或软件，还可将图像直接保存到USB设备中。
电动Z焦点和电动XY载物台使Axiovert 7成为了工作流自动化程度更高和高级成像的候选设备。

全天候舒适工作

人体工程学操作设计

Axiovert旨在使日常操作尽可能舒适便捷。

轻松高效地操作您的显微镜，尽享符合人体工程学的控制装置为您带来的优势，如对焦驱动、载物台驱动、光强管理器和图像采集。
光强管理器可在所有放大倍率下提供统一的亮度，让您在更换物镜时无需手动调节灯泡亮度。
系统协助您为图像采集进行理想设置，您只需专注于结果。

配置

适应您的实验室空间和任务

无需使用计算机即可进行成像和数据记录

Axiovert 5无需计算机系统，便可通过OSD菜单实现单机独立操作
用于互联环境中常规成像的蔡司Labscope

使用Labscope成像软件操作Axiovert 5是实现标准成像的理想之选
用于高级应用的蔡司ZEN core

使用蔡司ZEN core成像软件套件控制蔡司Axiovert 5和Axiovert 7完成高级成像和分析任务

配件

智能显微技术

智能显微镜让您能够始终专注于样品。白平衡、曝光时间和图像增强功能等相机参数的设置都会自动完成。您无需额外使用成像软件或计算机，借助智能控制盒（SCB）即可完成拍摄和存储图像、连接到网络、将数据直接保存至USB等任务。

通过自动化加速材料表征

借助Z轴和XY载物台的电动化设计，Axiovert 7让用户能够从更高的效率、基于自定义参数的可重复流程以及更好的结果可比性中受益。用户可充分利用自动聚焦、齐焦、Z轴序列图像的景深扩展和全景图像等功能。

非金属夹杂物分析

行业标准控制着NMI（非金属夹杂物）的金相分析，这对于研究钢的特性至关重要。模块化、定制化的ZEN core软件指导用户轻松快速地通过工作流生成符合标准的报告和夹杂物数据库。

支持的标准

✔ ASTM E45
✔ ISO 4967
✔ JIS G0555
✔ GB/T 10561
✔ EN 10247
✔ SEP 1571
✔ DIN 50602

非金属夹杂物分析

金属部件中的杂质和缺陷等会引发功能失效或影响其拉伸强度、韧性和耐疲劳度。配备ZEN模块非金属夹杂物分析的Axiovert 7可确认产品的制造工艺、等级和品质是否符合杂质或缺陷的严格规范。强大的检验视图和自动形变轴检测功能让分析更加轻松、直观且可重复。利用附加的GxP功能，ZEN core用户能够在NMI分析中为客户提供可追溯性和数据完整性，这意味着可以对等级认证进行审查，这一点对于受监管行业的客户尤为有利。

互联的显微镜检查

连接您所有的蔡司成像解决方案，从您的零件或材料样品中获取有意义的信息。将您的蔡司显微镜与ZEN core这款专为材料研究和分析而设计的软件套件连接起来。该套件不仅可以为互联实验室环境提供基础设施，还包含可辅助特定任务的预配置套装和工具包。

Connect工具包借助电动载物台实现样品在蔡司光学和电子显微镜之间的无缝转移，并可自动重新定位感兴趣区域。使用ZEN core的Connect工具包，可将同一样品的不同显微图像和数据在同一位置进行整合并实现可视化。

材相学

焊接接头，明场，EC Epiplan 5×/0.13

硬度裂纹C60钢，明场，EC Epiplan 20×/0.4

铸铁，圆微分干涉相差（C-DIC），EC Epiplan 20×/0.4

铸铁，暗场相差（DF），EC Epiplan 20×/0.4

材料科学

锂离子电池，明场，EC Epiplan 20×/0.4

铜，明场，EC Epiplan-Neofluar 10×/0.25

阳极氧化铝，偏光相差，EC Epiplan-Neofluar 5×/0.13

碳纤维增强聚合物基复合材料，EC Epiplan 20×/0.4

金相学

铸铁分析 - 图像分割

涂层厚度测量 - 对涂层进行自动检测

多相分析 - 带有各种相分布的结果视图

面积法晶粒尺寸分析 - 结果视图

下载

ZEISS Axiovert System

Your Inverted Microscope System for the Materials Lab and Smart Documentation

9 MB

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ZEISS Microscopy Solutions for Steel and Other Metals

Multi-modal characterization and advanced analysis options for industry and research

14 MB

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