软件

纳米级和关联分析

按照您的要求量身定制的颗粒度分析解决方案

蔡司系统能够分析滤光片上的颗粒，并让您获得更多关于材料化学组分的信息。使用电子显微镜和SmartPI软件全自动分析多达200,000个颗粒。Correlative Particle Analyzer（关联颗粒度分析系统）是将光学与电子显微镜的分析数据相结合的出色解决方案，且符合ISO 16232和VDA19标准。

快速的纳米级、化学和关联颗粒度分析

对组件和生产过程进行清洁度监控，由此确保机械组件能正常工作。必须避免因裂纹引起的泄漏，减少喷嘴和过滤器堵塞并防止泵和阀门发生故障。

降低维护成本并缩短设备停机时间。
全自动纳米级颗粒度分析软件——蔡司SmartPI

使用电子显微镜，分析滤光片上的多达200,000个颗粒，并选择性地了解材料的化学组分信息——SmartPI让这一切得以全自动化进行。
蔡司关联颗粒度分析

能够在光学和电子显微镜下快速测量与分析多达200个关键颗粒，并快速且高效地对其表征。这套用于颗粒度EDS分析的关联颗粒度分析系统符合ISO 16232和VDA19标准。

SmartPI

SmartPI：自动颗粒度分析

SmartPI是自动颗粒度分析的利器，适用于纳米级颗粒尺寸，其中包括化学组分的EDS分析。即便颗粒位于边界处，也同样能正确计数。您可以在同一用户界面下操作EDS和SEM。另外可使用各种评估方法，如离线分析和在测量或统计数据中排除颗粒，从而正确设定分析等级并创建一份专业、全面的报告。升级您的系统，使其具备关联颗粒度分析（CAPA）性能。

用于自动纳米级颗粒度分析的SmartPI包括：

一台电子显微镜，如EVO、SIGMA、MERLIN、ParticleSCAN、JetSCAN
SmartPI软件

了解更多

CAPA

Correlative Particle Analyzer

快速颗粒度分析

选择高分辨率的蔡司显微镜系统进行颗粒度化学分析。
获得结果的速度提高了10倍。
首先，根据颗粒大小对反射（如金属颗粒）和非反射颗粒进行分类，并在光学显微镜下辨识纤维。
然后，将颗粒转移至电子显微镜下进行全自动EDS分析。
最后，在单份报告中结合显示光学显微镜和电子显微镜的分析结果。
符合ISO 16232和VDA19颗粒度分析标准。

用于颗粒度分析的Correlative Particle Analyzer包括：

EVO MA 10电子显微镜
Axio Zoom.V16全电动变倍显微镜
关联样品载具
AxioVision Correlative Particle Analyzer软件

观看产品宣传片

第三方内容被阻止

由于您的跟踪首选项，视频播放器已被阻止。要更改设置并播放视频，请点击下方按钮并同意使用“功能”跟踪技术。

下载

Correlative Particle Analysis

Quickly Characterize and Classify Particles Supporting ISO 16232 by Light and Electron Microscopy

2 MB

下载

Particle Analyzer

Analyze Tiny Particles: Accurately and Reproducibly

5 MB

下载
Automated Microscopic Particle Measurement in the Pharmaceutical Industry

5 MB

下载

Microscope and Measurement Systems for Quality Assurance and Quality Control

Capture the essentials of your component. Quickly. Simply. Comprehensively.

4 MB

下载

联系蔡司显微镜事业部

升级/改造

软件下载

联系方式

正在加载表格...

下一步：

第1步
第2步
第3步

联系我们

必填信息

选填信息

纳米级和关联分析

按照您的要求量身定制的颗粒度分析解决方案

快速的纳米级、化学和关联颗粒度分析

全自动纳米级颗粒度分析软件——蔡司SmartPI

蔡司关联颗粒度分析