软件
蔡司SmartPI
Smart Particle Investigator
自动SEM颗粒分析和分类的解决方案
颗粒检测、分析和分类
Smart Particle Investigator(SmartPI)是先进的颗粒分析和分类解决方案,它将扫描电子显微镜转化为用于工业清洁或金属与钢应用的完整解决方案。SmartPI将SEM控制、图像处理和元素分析(EDS)的各个方面整合到了一个应用程序中。
- 使用一个软件程序控制SEM成像和进行EDS分析。
- 执行无人值守的自动颗粒分析。
- 生成可重复性数据和符合工业标准的报告。
- 将SmartPI与蔡司光学显微镜颗粒分析解决方案相结合,以配置关联工作流。
- 蔡司对整个系统的全球性服务和支持为您带来放心体验。
- SmartPI符合清洁度标准ISO 16232和VDA 19的要求。
SmartPI应用案例
推荐的SEM平台
EVO扫描电子显微镜
EVO是一款常规SEM,普遍用于常规材料分析或工业质量保证和失效分析。EVO配备大型五轴电动载物台以及简单易用的SmartSEM软件,为颗粒分析应用提供了可灵活配置的成像平台。EVO提供可变压力模式(VP),可进行不导电样品(如滤膜)的成像和分析,而无需导电喷镀,这将确保在后续分析(如Raman或FTIR)时滤膜的完好性。
Sigma场发射扫描电子显微镜
Sigma是需要更高分辨率来进行纳米级颗粒度分析的用户的理想SEM。配备Gemini镜筒技术的Sigma可以从场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)获得出色的成像能力和精准的分析结果。Gemini光学系统可在一个非常适合元素分析(尤其是对磁性样品)的平台上提供高分辨率成像。