通过各种不同的探测器来分析您的样品。不同的探测器可以让您获得来自样品表面、成分和其他细节的各类信息,帮助您改进和简化工作流程。
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级联电流探测器(C2D)取代了VPSE G3和VPSE G4,以在可变压力(VP)模式下实现极低电压成像。现在可以更有效地采集1 - 3 kV电压下的图像。
优势:
产品传单
扩展级联电流探测器(C2DX)是EVO系列特有的探测器,专为在3000 Pa的高压下实现出色的成像性能而设计。
优势
蔡司YAG晶体闪烁器BSD探测器可实现更高的光导效率,是低信号成像的理想之选。无辐射损伤的材料将YAG BSD转变为探测器,适用于所有光束能量范围。
BSD探测器用于探测以极低角度散射的背散射电子。新型放大器提供更高的探测器效率,以及各种衬度信息、更高的增益和更低的噪音水平。
配备光耦合光电倍增管的新型ETSE探测器(Everhart Thornely二次电子)设计用于在较低的运行电压和较长工作距离下改善二次电子的收集。
第四代可变压力SE探测器(VPSE G4)以其增强的信号收集和更快的响应速度令人信服。更高的扫描速度可以提高您的工作效率。VPSE G4可在高达400 Pa的压力(20 keV)下提供高20%的衬度。
此升级可提高样品处理效率,从而扩展EVO系统的信息限制。SEM中使用的电子束能量明显较低,导致在较低加速电压下激发体积减小、截面增加。
如果无法通过SEM单独成像对部件或样品进行全面了解,分析人员可使用能谱仪(EDS)采集空间可分辨的元素化学信息。
通过移除或涂敷表面材料和使用不同的系统(如原子力显微镜)来创建纳米级结构,或者通过蔡司Atlas 5的各种选项获得多模式图像和综合多尺度。
蔡司Atlas 5让一切更简单:借助以样品为中心的关联环境创建多尺度、多模式的综合图像。
探索我们新的软件版本和基于许可证的功能扩展以及当下推荐的高性能计算机硬件,以优化您的系统性能。
蔡司工作站升级通过使用全新的SmartSEM软件、高性能硬件规格和新操作系统来改进日常流程。
SmartSEM是一款电子显微镜操作系统,可访问高级显微镜设置,旨在完成极具挑战的任务。
Smart Particle Investigator(SmartPI,智能颗粒调查器)是先进的颗粒分析和分类解决方案,它将扫描电子显微镜(SEM)转化为用于工业清洁或金属与钢应用的完整解决方案。
您可以通过我们的各类许可证添加新功能和改进现有功能,这将有助于您改进流程、简化系统的使用并获得提供更多信息的工具。
扫描电子显微镜能够实现各类样品的2D测量与分析。如需分析样品的3D表面,可使用蔡司选装软件包3DSM。使用aBSD或AsB探测器的信号重构样品表面完整的3D模型,以获取表面形貌信息。
3DSM Metrology:
您可以借助Shuttle & Find将蔡司的电子和光学显微镜连接起来。组合的硬件和软件解决方案使您能够在短短几分钟内将样品从一个显微镜系统转移到另一个显微镜系统。
只需用手指轻轻一滑即可选择感兴趣的区域,EVO系统将自动为您收集数据,在您执行其他任务时进行无人值守的运行。此升级通过其现代化的触摸界面和各种自动化工具为您提供更加舒适的工作流。
案例研究
提高便利性并简化您的日常工作,例如通过样品交换舱缩短装载时间并提高样品的处理效率,或通过ECO Quiet Mode显著降低噪音水平。使用等离子清洗器清除样品和样品仓的污染,或使用电子束流枪或电荷补偿技术,通过补偿荷电效应来提升图像质量。
通过使用蔡司ECO Quiet Mode并借助真空储罐,前级泵在达到出厂预设的真空水平后将自动关闭。真空储罐允许系统在没有前级泵的情况下运行数小时,以此降低噪音水平和能耗。
蔡司为您提供快速且经济的样品和样品仓去污解决方案。等离子清洗器用于在等离子中产生反应性气相自由基。自由基迁移到设备室并与不需要的碳氢化合物发生化学反应。
使用附加配件来升级您的显微镜,例如样品载具、新版双操纵杆控制器和控制面板,或在断电时保障系统安全的不间断电源(UPS)。
电力供应不稳定时将使用不间断电源(UPS)。不间断电源用于在短暂断电时桥接电源,并在长时间断电时以受控方式关闭显微镜。
借助双操纵杆控制器和控制面板,操作更加方便。双操纵杆控制器可用于载物台控制和样品导航,控制面板可让您轻松访问SEM的常用功能。
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