FIB-SEM升级

为您的FE-SEM或Crossbeam系统添加透射电子成像功能。无需使用专门的透射电子显微镜，即可从超薄生物样品或固态样品中获取更多信息，且具有灵活性和多功能性。

优势：

• 提升图像分辨率
• 便捷的使用
• 更高效率和多功能性

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二次电子和二次离子（SESI）探测器是一款可用于Crossbeam工作站的新型探测器。使用该探测器可以采集FIB二次离子图像或电子图像。

优势：

• 二合一：通过电子和离子获取信息
• 更详细的材料信息
• 广泛的组合选择

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想要得到快速的高分辨率成像需要高电子剂量和加速电压，这会导致荷电效应和样品损伤，从而影响图像质量。蔡司Sense BSD可在高效率和高图像质量的基础上实现高分辨率的超微结构成像，使您的SEM得以进行TEM级别的成像。

优势：

• 非常适合非导电的易荷电生物样品
• 理想的样品保护并避免图像质量下降
• 在更短的时间内生成高质量的图像

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将Gemini镜筒的成像和分析性能与下一代聚焦离子束（FIB）的能力相结合。从完整的溅射能力以及FIB升级的微米和纳米加工工具中受益。

优势：

• 获取极为丰富的信息
• 保持全过程控制
• 体验极大的灵活性

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蔡司UniGIS（GIS =气体注入系统）是一款新型单气体注入系统，用于配合蔡司FIB-SEM系统，对铂、钨或碳等前体进行离子或电子束诱导沉积（IBID / EBID）。

优势：

• 工艺稳定
• 操作方便
• 沉积可靠

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减少光路组件的清洁工作以及对保护窗的污染。由于复合射流喷嘴组件易于拆卸清洗，因此可以通过激光制备室装载EBSD高支架。

优势：

• 污染更少
• 大幅度减少清洁工作
• 改进了剥离技术

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原子力显微镜在现有SEM功能的基础上增加了经过校准的原子级3D分辨率和高分辨率测量。

优势：

• 了解有关样品表面的力学、电气、化学和磁特性信息
• 效率和功能性得到提升且操作简便

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蔡司工作站升级通过使用全新的SmartSEM软件、高性能硬件规格和新操作系统来改进日常流程。

优势：

• 全新的SmartSEM版本
• 直观的导航
• Windows 10

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交换舱可以在不破坏现有真空度的情况下高效装载样品，从而降低样品仓被污染的风险。使用此方法还能大幅缩短样品的更换时间。

优势：

• 显著提高处理效率
• 装载大型样品
• 符合人体工程学且操作方便

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电子束流枪是一种增强型装置，用于对带正电的绝缘体或半导体样品进行电荷中和。它可以提供稳定的低能量电子流，对聚焦离子束留下净正电荷的样品区域进行放电。

优势：

• 电荷中和
• 增强的成像效果
• 防止损坏

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通过使用蔡司ECO Quiet Mode并借助真空储罐，前级泵在达到出厂预设的真空水平后将自动关闭。真空储罐允许系统在没有前级泵的情况下运行数小时，以此降低噪音水平和能耗。

优势：

• 更舒适的应用
• 高清晰成像
• 节能

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电力供应不稳定时将使用不间断电源（UPS）。不间断电源用于在短暂断电时桥接电源，并在长时间断电时以受控方式关闭显微镜。

优势：

• 短暂断电时桥接电源
• 保障显微镜的安全

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